PL EN
 
PL EN
Bieżące wydanie
O czasopiśmie
Rada Naukowa
Redakcja i Wydawcy
Opłaty za publikacje
Open Access

Autor Michał Jakubowicz

 

Differences in Roughness Parameter Values from Skid and Skidless Contact Stylus Profilometers
Karol Grochalski, Michał Mendak, Michał Jakubowicz, Bartosz Gapiński, Natalia Swojak, Michał Wieczorowski, Aleksandra Krawczyk
Adv. Sci. Technol. Res. J. 2021; 15(1):58-70
DOI: https://doi.org/10.12913/22998624/130453
 

The Measuring Position Designed to Determine the Metrological Properties of air Gauges
Michał Jakubowicz, Janusz Dereżyński
Adv. Sci. Technol. Res. J. 2017; 11(4):198-205
DOI: https://doi.org/10.12913/22998624/79830
 

Simulation of influence of diameter and other circle parameters on results of incomplete round profile testing
Lidia Anna Smyczyńska, Michał Wieczorowski, Bartosz Gapiński, Michał Jakubowicz
Adv. Sci. Technol. Res. J. 2025; 19(7)
 

Traceability Assurance Method for Measurements Performed Using Hybrid Measuring Systems Consisting of Tactile and Optical Devices
Adam Gąska, Piotr Gąska, Maciej Gruza, Wiktor Harmatys, Tomasz Kowaluk, Adam Styk, Michał Jakubowicz, Adam Wójtowicz, Mariusz Andrzej Wiśniewski, Jerzy Sładek
Adv. Sci. Technol. Res. J. 2024; 18(7):447-459
DOI: https://doi.org/10.12913/22998624/193736
 

Photogrammetry-Aided Study of the Accuracy and Repeatability of a Modular System for Manufacturing Shelf Ready Packaging
Michał Jakubowicz, Michał Wieczorowski, Bartosz Gapiński, Natalia Swojak, Filip Rogiewicz, Czesław Jermak
Adv. Sci. Technol. Res. J. 2024; 18(4):111-127
DOI: https://doi.org/10.12913/22998624/188584
 
Journals System - logo
© 2006-2025 Journal hosting platform by Bentus
Scroll to top